— 測試項目 —
連接性測試 | 電參數(shù)測試 | 功能測試 | 檢漏測試 |
漏點測試 | X射線檢測 | 超高解析度顯微鏡 | 超聲波掃描顯微鏡 |
開封技術(shù) | 去鈍化層技術(shù) | 微區(qū)分析技術(shù) | 光學(xué)顯微分析技術(shù) |
掃描電子顯微鏡二次電子像技術(shù) | 顯微紅外熱像技術(shù) | 液晶熱點檢測技術(shù) | 光發(fā)射顯微分析技術(shù) |
金相切片 | 染色分析 | 傅立葉變換顯微紅外光譜分析 | 顯微共焦拉曼光譜儀 |
掃描電鏡及能譜分析 | X射線熒光光譜分析 | 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀 | 裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀 |
核磁共振分析 | 俄歇電子能譜分析儀 | X射線光電子能譜分析儀 | X射線衍射儀 |
— 已提供服務(wù)項目 —
筆記本電腦整機(jī)及其零組件、平板電腦整機(jī)及其零組件、手機(jī)整機(jī)及其零組件、電視機(jī)整機(jī)及其零組件相機(jī)、路由器、電源適配器、攝像機(jī)、投影儀、交換機(jī)、無線網(wǎng)卡、燈、電腦配件、智能機(jī)器人、智能家居產(chǎn)品、汽車儀表、汽車內(nèi)外飾件、汽車車座,汽車車體,高鐵座椅、高鐵內(nèi)裝部件。
— 環(huán)境與可靠性試驗 —
可靠性測試就是為了評估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi),在預(yù)期的使用、運輸或儲存等所有環(huán)境下,保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用,以評價產(chǎn)品在實際使用、運輸和儲存的環(huán)境條件下的性能,并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。通過使用各種環(huán)境試驗設(shè)備模擬氣候環(huán)境中的高溫、低溫、高溫高濕以及溫度變化等情況。
— 測試項目 —
環(huán)境可靠性 | 氣候環(huán)境測試、機(jī)械環(huán)境測試、綜合環(huán)境測試、可靠性工程試驗、可靠性統(tǒng)計試驗、產(chǎn)品材料元器件失效分析、可靠性失效分析數(shù)據(jù)管理等 |
氣候環(huán)境試驗 | 溫度老化試驗(高溫老化、低溫老化、溫度循環(huán)試驗、溫度沖擊、恒溫恒濕、三綜合試驗) |
光老化試驗(氙燈老化、紫外老化、太陽光輻射、碳弧燈老化) | |
外殼防護(hù)等級(淋雨試驗、防水試驗、防塵試驗、沙塵試驗、碎石試驗) | |
腐蝕環(huán)境試驗:氣體腐蝕試驗(二氧化硫、硫化氫、二氧化氮、氯氣)、鹽霧腐蝕試驗(中性鹽霧、酸性鹽霧、銅離子加速酸性鹽霧)、耐溶劑試驗(耐酸試驗、耐堿試驗、耐酒精、耐甲苯等) | |
臭氧老化 | |
機(jī)械環(huán)境試驗 | 振動試驗、碰撞試驗、沖擊試驗、彈跳試驗、跌落試驗、傾斜和翻倒試驗、錘擊試驗、包裝測試 |
綜合環(huán)境試驗 | 溫度+氣壓、高加速壽命測試、溫度+濕度+振動綜合試驗、溫度+濕度+光照+振動綜合測試、溫度+濕度+振動綜合試驗、高溫+振動、低溫+振動、高低溫拉伸試驗 、高低溫彎曲試驗、高低溫沖擊試驗 |
可靠性試驗 | 可靠性壽命測試、可靠性增長、鑒定、驗收試驗、加速壽命測試、環(huán)境應(yīng)力篩選測試 |
失效分析 | 非破壞性分析、半破壞性分析、破壞性分析、DPA技術(shù)能力、PCBA檢測與失效分析 |